200kV回折コントラスト電子顕微鏡
最終更新日：2025年4月3日
| 設備ID | OS-012 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 200kV回折コントラスト電子顕微鏡 (200kV diffraction-contrast TEM) |
| 設置機関 | 大阪大学 |
| 設置場所 | 大阪大学 超高圧電顕センター |
| メーカー名 | 日本電子（株） (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-2100Plus |
| キーワード | 金属、半導体、セラミックス、薄膜、ナノ粒子 |
| 仕様・特徴 | 加速電圧200kV、回折コントラスト実験 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=OS-012 |
