FE-SEM+EDX [JSM-IT800]
最終更新日：2025年1月7日
| 設備ID | NM-667 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | FE-SEM+EDX [JSM-IT800] (FE-SEM+EDX [JSM-IT800]) |
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
| 設置場所 | NIMS千現地区材料信頼性実験棟116室 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JSM-IT800is |
| キーワード | SEM、観察、計測、元素分析、走査型電子顕微鏡/ Scanning electron microscope |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧: 0.01～30kV , ・最大倍率:2,000k ・検出器:SED/UID ・分解能：0.6 nm (15 kV) , 1.5 nm (1 kV) ・最大試料サイズ：6インチ ・付加機能：EDX |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=NM-667 |
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