走査型透過X線顕微鏡
最終更新日：2024年4月15日
| 設備ID | AE-009 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型X線顕微鏡 |
| 設備名称 | 走査型透過X線顕微鏡 (Scanning Transmission X-ray microscopy apparatus) |
| 設置機関 | 日本原子力研究開発機構（JAEA） |
| 設置場所 | SPring-8 BL23SU |
| メーカー名 | カスタム (Home-made) |
| 型番 | なし |
| キーワード | 元素マッピング、電子状態、化学状態 |
| 仕様・特徴 | N, OのK吸収端, および遷移金属L2,3吸収端、希土類M4,5吸収端など、400~1900eVに吸収端のある元素の実空間2次元マッピングが可能で、場所ごとの吸収スペクトルを得ることができる。 ・空間分解能：~50 nm ・試料温度：室温のみ ・検出方法：透過法のみ |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=AE-009 |
