半導体パラメータアナライザ
最終更新日：2022年4月9日
| 設備ID | RO-512 |
|---|---|
| 分類 | デバイス特性 > 電気特性評価 |
| 設備名称 | 半導体パラメータアナライザ (Semiconductor Parameter Analyzer) |
| 設置機関 | 広島大学 |
| 設置場所 | 東棟４F |
| メーカー名 | アジレント (Agilent) |
| 型番 | 4156他 |
| キーワード | |
| 仕様・特徴 | トランジスタ特性測定（HP4156、プローバ含む）、 電源3ユニット、最小測定電流0.1pA |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.go.jp/user_report.php?keyword=RO-512 |
