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走査プローブ顕微鏡 (Scanning probe microscope)
- 設備ID
- MS-204
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker (Bruker)
- 型番
- Dimension XR Icon NanoEDimension XR Icon NanoEC
- 仕様・特徴
- 形状測定、機械特性測定、電気特性測定、電気化学
大気非暴露ボックス、環境制御ユニット(-35℃～250℃、湿度5%～50％）
- 設備状況
- 稼働中
精密形状測定・局所磁気測定・局所電気特性評価装置 (Scanning Probe Microscope for Morphological, Magnetic and Electrical Characterization)
- 設備ID
- NI-017
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSPM-5200TM
- 仕様・特徴
- 分解能：原子分解能。カーボンナノファイバー(CNF)探針によるソフトマテリアル低損傷観察可能。
測定モード：形状、電気特性、磁気特性測定。
- 設備状況
- 稼働中
液中原子間力顕微鏡 (Atomic force microscope (AFM) in liquid)
- 設備ID
- NM-005
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- NanoWizard 4 XP
- 仕様・特徴
- 【AFM測定】
・液中観察：可
・走査範囲：水平100µm、垂直15µm
・動作モード：コンタクトモード、タッピングモード、フォースカーブマッピングモード、粘弾性測定、MFM観察
【直上顕微鏡】
・観察倍率：10倍
【倒立顕微鏡】
・観察法：明視野、位相差、蛍光
・対物レンズ：10倍、40倍
【その他】
・温度制御：室温＋60℃まで
- 設備状況
- 稼働中
走査型プローブ顕微鏡 [Jupiter XR] (SPM [Jupiter XR])
- 設備ID
- NM-622
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![走査型プローブ顕微鏡 [Jupiter XR]](data/facility_item/NM-622.jpg)
- メーカー名
- オックスフォード・インストゥルメンツ (Oxford Instruments)
- 型番
- Jupiter XR
- 仕様・特徴
- ・用途：ナノ構造の計測
・評価・測定モード：形状測定、メカニカル測定、電気測定、磁気測定、等
・走査範囲：90um
・ステージ可動範囲：200mm角
・最大試料サイズ：φ8inch
- 設備状況
- 稼働中
表面ダイナミクス原子間力顕微鏡装置 (Atomic Force Microscope System for Surface Dynamics)
- 設備ID
- NR-706
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- NanoWizard ULTRA Speed 2
- 仕様・特徴
- ・測定環境：大気中、液中
・最大撮影速度：10 frames/sec
・最大走査範囲：水平300μm×垂直300μm
・動作モード：コンタクトモード、ピークフォースタッピング（QIモード）、ACモード、フォースカーブマッピングモード
・温度制御範囲：室温～+300℃（高温加熱ステージ利用時）、-30～120℃（加熱冷却モジュール利用時）
- 設備状況
- 稼働中
原子間力顕微鏡 (Atomic force microscope)
- 設備ID
- NU-204
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker AXS (Bruker AXS)
- 型番
- Dimension3100
- 仕様・特徴
- ・スキャン領域：XY方向 約90μm，Z方向 約6μm
・試料サイズ：最大150 mmφ－12 mmT
・測定モード AFM，MFM，EFM，LFM，表面電位顕微鏡，電流像
- 設備状況
- 稼働中
原子間力顕微鏡 (Atomic force microscope)
- 設備ID
- NU-264
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- パーク・システムズ (Park Systems)
- 型番
- NX20
- 仕様・特徴
- ・スキャン領域：XY方向100µm，Z方向15µm
・試料サイズ：最大200mmφ－20mmt
・測定モード AFM，MFM，EFM，LFM，FMM，C-AFM，ナノリソグラフィ
- 設備状況
- 稼働中
走査型プローブ顕微鏡 (Scanning Probe Microscope)
- 設備ID
- OS-125
- 設置機関
- 大阪大学
- 設備画像
- メーカー名
- 株式会社日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science Corporation)
- 型番
- AFM5000/AFM5300E
- 仕様・特徴
- 【特徴】
AFM,c-AFM,STM,DFM,MFM,KFM,PRM,電流マッピング,SNDMなどが測定可能な走査型プローブ顕微鏡です。
温度制御、調湿制御機構を備えており、真空下での測定も可能です。
500ｍTの磁場が試料水平方向に印加可能です。
【仕様】
試料サイズ：15mmφ
温度制御：-120～300℃
調湿制御：30～70％
真空中測定：10E-4Paまで可能
磁場印加：試料水平方向に500ｍT
- 設備状況
- 稼働中
原子間力顕微鏡 (AFM)
- 設備ID
- RO-533
- 設置機関
- 広島大学
- 設備画像
- メーカー名
- セイコーインスツルメンツ (Seiko Instruments Inc.)
- 型番
- SPI3800
- 仕様・特徴
- 分解能：z:0.01nm, Ｘ、Ｙ：0.1nm,
視野：最小5nm角、最大 20μm角、
- 設備状況
- 稼働中
ナノ物性測定用プローブ顕微鏡システム (Scanning probe microscope for measuring nano-region material property)
- 設備ID
- TT-019
- 設置機関
- 豊田工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- Multimode顕微鏡
- 仕様・特徴
- ・導電性（TUNA)
・表面電位、STM機能
・原子、分子分解能
- 設備状況
- 稼働中