共用設備検索結果
中分類から探す
表示件数
FE-SEM+EDX [SU8230] (FE-SEM+EDX [SU8230])
- 設備ID
- NM-649
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![FE-SEM+EDX [SU8230]](data/facility_item/1687416938_11.jpg)
- メーカー名
- 株式会社日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
- 型番
- SU8230
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 0.5～30kV ,
・最大倍率:1,000k
・検出器:SE/BSE
・分解能：0.8 nm (15 kV) , 1.1 nm (1 kV)
・最大試料サイズ：6インチ
・付加機能：EDX
- 設備状況
- 稼働中
卓上電子顕微鏡 [TM3000] (Tabletop SEM+EDX [TM3000])
- 設備ID
- NM-650
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![卓上電子顕微鏡 [TM3000]](data/facility_item/1687416974_11.jpg)
- メーカー名
- 株式会社日立ハイテク (Hitachi High-Tech Corporation)
- 型番
- TM3000
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 5, 15kV ,
・検出器:BSE
・最大倍率: 10k
・最大試料サイズ：70mmΦ
・付加機能：EDX
- 設備状況
- 稼働中
FE-SEM+EDX [JSM-IT800] (FE-SEM+EDX [JSM-IT800])
- 設備ID
- NM-667
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
![FE-SEM+EDX [JSM-IT800]](data/facility_item/1736223368_24.jpg)
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-IT800is
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 0.01～30kV ,
・最大倍率:2,000k
・検出器:SED/UID
・分解能：0.6 nm (15 kV) , 1.5 nm (1 kV)
・最大試料サイズ：6インチ
・付加機能：EDX
- 設備状況
- 稼働中
多機能分析走査電子顕微鏡 (Multi-functional analysis Scanning Electron Microsope (SEM))
- 設備ID
- NR-201
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-IT800
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 100 V 〜 30 kV
・分解能: 0.5 nm（2次電子像、加速電圧15 kV）
・EDS検出器搭載
・EBSD検出器搭載
・CL検出器搭載
・低真空機能搭載
- 設備状況
- 稼働中
超高分解能電界放出型電子顕微鏡 (Field-emission scanning electron microscope (FE-SEM))
- 設備ID
- NR-205
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- SU9000
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 500 V 〜 30 kV
・分解能: 0.4 nm（2次電子像、加速電圧30 kV）
・EDX検出器搭載
・STEM検出器搭載
- 設備状況
- 稼働中
低真空分析走査電子顕微鏡 (Scanning Electron Microsope (SEM))
- 設備ID
- NR-206
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- SU6600
- 仕様・特徴
- ・加速電圧: 500 V 〜 30 kV
・分解能: 1.2 nm（2次電子像、加速電圧30 kV）
・EDS検出器搭載
・EBSD検出器搭載
・低真空機能搭載
- 設備状況
- 稼働中
表面ダイナミクス原子間力顕微鏡装置 (Atomic Force Microscope System for Surface Dynamics)
- 設備ID
- NR-706
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- ブルカー (Bruker)
- 型番
- NanoWizard ULTRA Speed 2
- 仕様・特徴
- ・測定環境：大気中、液中
・最大撮影速度：10 frames/sec
・最大走査範囲：水平300μm×垂直300μm
・動作モード：コンタクトモード、ピークフォースタッピング（QIモード）、ACモード、フォースカーブマッピングモード
・温度制御範囲：室温～+300℃（高温加熱ステージ利用時）、-30～120℃（加熱冷却モジュール利用時）
- 設備状況
- 稼働中
走査型電子顕微鏡（SEM） (Scanning Electron Microscope (SEM))
- 設備ID
- NU-004
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-7500F
- 仕様・特徴
- ・電界放出形電子銃 ・二次電子分解能：1.0nm（15kV）、1.4nm（1kV） ・倍率：×25～1,000,000 加速電圧：0.1～30kV ・ジェントルビーム
・オプション：リトラクタブル反射電子検出器(RBEI)、エネルギー分散形X線分析装置(EDS)
- 設備状況
- 稼働中
ナノバイオ分子合成・超解像解析評価システム (Super-resolution Analysis System)
- 設備ID
- NU-021
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- ニコン・日本電子 (Nikon, JEOL)
- 型番
- N-SIM+N-STORM+A1R+A1RMP+JASM-6200 ClairScope
- 仕様・特徴
- N-SIM:XY分解能120 nm以下、Z分解能350 nm以下、画像取得時間0.6秒/枚以下、4色(405/488/561/640 nm)
N-STORM解像度:XY分解能20 nm以下、Z分解能50 nm以下、3色(405/457/561 nm)
A1R:シングルフォトン共焦点、励起レーザー(405 nm、457/488/514 nm、561 nm、647 nm)
シングルフォトン共焦点部:励起レーザー(405 nm、488 nm、561 nm、647 nm)
多光子励起顕微鏡部:IRパルスレーザー、700-1000 nm励起波長帯域
JASM-6200:大気圧下で走査電子顕微鏡観察可能、分解能8.0 nm、試料移動範囲±2.5 mm以上
- 設備状況
- 稼働中
直交型高速加工観察分析装置 (High performance focused ion beam system （FIB-SEM))
- 設備ID
- NU-104
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
- 型番
- MI4000L
- 仕様・特徴
- FIB-SEM 直交配置
FIB, SEM, STEM, Ar Gun, EDS
FIB, SEM 最大加速電圧：30kV
- 設備状況
- 稼働中