共用設備検索結果
中分類から探す
表示件数
透過型電子顕微鏡（TEM） (Transmission electron microscope (TEM))
- 設備ID
- CT-012
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- H-7600
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：120 kV
・冷却フォルダー（-120 ℃）
- 設備状況
- 稼働中
ダブル球面収差補正走査透過型電子顕微鏡 (Double Cs-corrected scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- HK-101
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本FEI (FEI)
- 型番
- Titan3 G2 60-300
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：60kV-300kV
・TEM分解能：0.07nm、STEM分解能：0.07nm
・X-FEG電子銃
・モノクロメーター搭載
・照射系球面収差補正器
・結像系球面収差補正器
・Super-X EDS検出器
・Gatan GIF QuantumER分光器
・分析試料ホルダー、トモグラフィー試料ホルダー
・遠隔観察
・遠隔オペレーション
- 設備状況
- 稼働中
マルチビーム超高圧電子顕微鏡 (Multi-Beam HVEM)
- 設備ID
- HK-103
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- ARM-1300
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：1250kV
・TEM分解能：0.12nmn
・LaB6熱電子銃
・300K、400Kイオン加速器
・ナノ秒パルスレーザー
・He-Cd CWレーザー
・フェムト秒レーザー
・CCD分光器
・遠隔観察
- 設備状況
- 稼働中
量子・電子制御ナノマテリアル顕微物性測定装置 (Microscopic measuring equipment for physical properties on quantum/electronic controlled nano-materials)
- 設備ID
- HK-107
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F NEOARM
- 仕様・特徴
- ・加速電圧：80kV-200kV
・TEM分解能：0.1nm、STEM分解能：0.07nm
・冷陰極電界放出型電子銃
・照射系球面収差補正器
・結像系球面収差補正器
・HAADF-ABF同時取得機能
・EDS検出器
・加熱・バイアス印加TEM二軸傾斜ホルダー
- 設備状況
- 稼働中
環境セル対応透過電子顕微鏡 (Transmission electron microscope for Environmental cell (E-TEM))
- 設備ID
- HK-301
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2010
- 仕様・特徴
- 加速電圧：200kV
分析機能：EDS
環境セル加熱ホルダー装備
- 設備状況
- 稼働中
収差補正走査型透過電子顕微鏡 (Cs-corrected scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- HK-401
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 加速電圧：80kV,200kV
ColdFEG
EDS,EELS
大気非暴露・冷却試料ホルダー
遠隔観察
- 設備状況
- 稼働中
走査型透過電子顕微鏡 (Scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- HK-402
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2000
- 仕様・特徴
- 加速電圧：200kV
冷陰極電界放出電子銃
分析機能：EDS、EELS
- 設備状況
- 稼働中
時間分解収差補正光電子顕微鏡システム (Time-resolved photoelectron emission microscope)
- 設備ID
- HK-405
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- エルミテック (Elmitec)
- 型番
- AC-PEEMIII
- 仕様・特徴
- 空間分解能：4nm以下
時間分解能：10fs以下
LEEM機能
- 設備状況
- 稼働中
原子分解能走査透過型電子顕微鏡 (STEM)
- 設備ID
- JI-008
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 加速電圧：200 kV
電子銃 ショットキー型電界放出銃
分解能：
0.08 nm（走査透過像）
0.19 nm（透過顕微鏡 粒子像）
0.10 nm（透過顕微鏡 格子像）
EDS、EELSによる組成分析機能付
照射系収差補正装置：組み込み
UHR仕様
- 設備状況
- 稼働中
透過電子顕微鏡 (TEM)
- 設備ID
- JI-009
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100Plus
- 仕様・特徴
- 【半遠隔利用可】
加速電圧：60, 100, 120, 200kV
EDSによる組成分析機能付
UHR仕様
- 設備状況
- 稼働中