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短波長レーザー顕微鏡[VK-9700] (Laser Microscope〔VK-9700〕)
- 設備ID
- AT-060
- 設置機関
- 産業技術総合研究所（AIST)
- 設備画像
![短波長レーザー顕微鏡[VK-9700]](data/facility_item/AT-060.jpg)
- メーカー名
- キーエンス (KEYENCE)
- 型番
- VK-9700
- 仕様・特徴
- ・型式:VK-9700 Generation II（キーエンス社製）
・試料サイズ:100mmφ
・倍率:最大18000倍
・分解能:1 nm（Z方向、高さ）
・高さ測定範囲:7 mm
・表示分解能:0.001 μm
・幅測定表示分解能:0.001 μm
・フレームピクセル数:2048×1536
・モノクロ映像:14 bit
・カラー映像:RGB各8 bit、高さ測定用:24 bit
・光学ズーム:1x～6x
・測定レーザー:波長408 nm、最大出力0.9 mW
・受光:光電子増倍管
・観測:100 Wハロゲン光源
・撮像素子:カラーCCDイメージセンサ
- 設備状況
- 稼働中
短波長レーザー顕微鏡[OLS-4100] (Laser Microscope〔OLS-4100〕)
- 設備ID
- AT-061
- 設置機関
- 産業技術総合研究所（AIST)
- 設備画像
![短波長レーザー顕微鏡[OLS-4100]](data/facility_item/AT-061.jpg)
- メーカー名
- オリンパス (Olympus)
- 型番
- OLS-4100
- 仕様・特徴
- ・型式:OLS4100
・試料サイズ:100mmφ
・倍率:最大17280倍
・高さ測定範囲:10mm
・XYステージ:100mm×100mm（電動ステージ）
・表示分解能:0.001μm
・フレームピクセル数:4096×4096
・光学ズーム:1x～8x
・測定レーザー:波長405nm、最大出力1mW
・微分干渉ユニット:微分干渉スライダ（U-DICR）、偏光板ユニット内蔵
- 設備状況
- 稼働中
3D測定レーザ顕微鏡 (3D Measuring laser microscope)
- 設備ID
- CT-007
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- オリンパス (Olympus)
- 型番
- LEXT OLS4000
- 仕様・特徴
- ・レーザ波長: 405 nm 半導体レーザ
・総合倍率: x 108~17,280
- 設備状況
- 稼働中
蛍光顕微鏡 (Fluorescence microscope)
- 設備ID
- CT-008
- 設置機関
- 公立千歳科学技術大学
- 設備画像
- メーカー名
- オリンパス (Olympus)
- 型番
- BX51DP73
- 仕様・特徴
- ・落射型
・位相差観察や微分干渉観察との同時併用観察が可能
- 設備状況
- 稼働中
白色干渉式非接触三次元形状測定器 (White light interference type non-contact three-dimensional shape measuring system)
- 設備ID
- GA-007
- 設置機関
- 香川大学
- 設備画像
- メーカー名
- ﾌﾞﾙｶｰ･ｴｲｴｯｸｽｴｽ (Bruker)
- 型番
- NT91001A-in motion
- 仕様・特徴
- in-situ駆動観察
測定方式:垂直走査型干渉方式
位相シフト干渉方式
分解能:X,Y方向:1μm
Z方向:0.1～1nm
試料ステージ:6インチ
- 設備状況
- 稼働中
レーザー式非接触三次元形状測定器 (Laser non-contact three-dimensional shape measuring system)
- 設備ID
- GA-008
- 設置機関
- 香川大学
- 設備画像
- メーカー名
- 三鷹光器 (Mitaka Kohki)
- 型番
- NH-3N
- 仕様・特徴
- 計測方法:レーザープローブ方式
計測範囲:150mm×150mm×1０mm(X、Y、Z)
測定分解能:0.1×0.1×0.01μm
- 設備状況
- 稼働中
デジタルマイクロスコープ (Digital microscope)
- 設備ID
- GA-009
- 設置機関
- 香川大学
- 設備画像
- メーカー名
- ハイロックス (Hirox)
- 型番
- KH-7700
- 仕様・特徴
- 有効画素数 : 201万画素
最高解像度 : 3000万画素
倍率 : ～400倍
- 設備状況
- 稼働中
白色干渉搭載レーザ顕微鏡 (White light interference type Laser Microscope)
- 設備ID
- GA-014
- 設置機関
- 香川大学
- 設備画像
- メーカー名
- キーエンス (KEYENCE)
- 型番
- VK-X3100
- 仕様・特徴
- 倍率：×42～28,800
視野範囲：11?7398 μm
測定原理：レーザー共焦点、フォーカスバリエーション、白色干渉、分光干渉
レーザ光源波長：半導体レーザ404 nm
- 設備状況
- 稼働中
レーザー顕微鏡 (Laser Microscopy)
- 設備ID
- HK-632
- 設置機関
- 北海道大学
- 設備画像
- メーカー名
- キーエンス (KEYENCE)
- 型番
- VK-9700/9710
- 仕様・特徴
- ・対物レンズ 10,x20,x50,x150
・レーザー波長 408nm
- 設備状況
- 稼働中
クライオ共焦点顕微鏡 (Cryogenic confocal microscopy)
- 設備ID
- IT-034
- 設置機関
- 東京科学大学（旧：東京工業大学）
- 設備画像
- メーカー名
- レニショー (Renishaw)
- 型番
- inVia Reflex
- 仕様・特徴
- クライオスタットのプラットフォーム温度 3.4~350 K（試料温度は3.5 Kよりも上昇）、レーザ波長 514 nm、対物レンズ 50倍、光検出器 アバランシェフォトダイオードおよび分光器、XYおよびXZの2次元発光マッピング、Hanbury-Brown Twiss計測
- 設備状況
- 稼働中