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粉末X線回折装置 (XRD)
- 設備ID
- UT-204
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- ㈱リガク (Rigaku Co.)
- 型番
- SmartLab (Kα1)
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
対称ヨハンソン型結晶を用いた光学系による高強度、高角度分解能測定が可能。粉末Ｘ線回折等に威力を発揮。
□ 主な仕様
・ X線源：3 kW封入型Ｘ線管/Cuターゲット
・ 光学系：集中法・集光法
・ 検出器：シンチレーション検出器：1次元半導体検出器
・対称ヨハンソン型結晶を用いた光学系が可能
・キャピラリー回転測定可能
- 設備状況
- 稼働中
薄膜構造解析用Ｘ線回折装置 (XRD)
- 設備ID
- UT-205
- 設置機関
- 東京大学
- 設備画像
- メーカー名
- ㈱リガク (Rigaku Co.)
- 型番
- SmartLab-XE(9kW)
- 仕様・特徴
- □ 主な特長
・ 高輝度Ｘ線源 及び In-Planeアームを搭載した試料水平配置高精度ゴニオメータを使用したＸ線回折装置。
・ 粉末試料測定に適した集中法光学系，薄膜試料の測定に適している多層膜ミラーを用いた平行ビーム光学系によるＸ線反射率測定，逆格子マップ測定，ロッキングカーブ測定などを簡単なユニット交換で組み替えて利用することが可能。
・ インプレーンアームの搭載により、極薄膜の評価や完全極点測定が可能。
・微小部光学系と観察用カメラ、X-Yステージにより微小領域測定やマッピング測定が可能
・透過SAXS/WAXS、GI-SAXS/WAXSが可能
□ 主な仕様
・ X線源：9kW回転対陰極X線発生装置/Cuターゲット
・ 光学系：集中法・多層膜平行ビーム法・薄膜高分解平行ビーム法・インプレーン光学系・透過光学系・微小部光学系
・ 検出器：HyPix-3000
- 設備状況
- 稼働中
全自動多目的X線回折装置 (SmartLab, X-ray diffractometer)
- 設備ID
- YG-601
- 設置機関
- 山形大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab
- 仕様・特徴
- ・試料にＸ線を照射した際、Ｘ線が原子の周りにある電子によって散乱、干渉した結果起こる回折を解析。結晶構造にX線を照射すると格子面でX線が反射され、それぞれが干渉し合い、回折線を発生させ、検出
・対象試料：無機・有機物質の粉末、高分子材料、タンパク質、金属部品、有機・無機薄膜半導体、エピタキシャル膜、コロイド粒子など
- 設備状況
- 稼働中