共用設備検索結果
表示件数
卓上型粉末回折計_Cr_SCR (pXRD_Cr_SCR)
- 設備ID
- NM-214
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- MiniFlex600_Cr
- 仕様・特徴
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cr Kα
・X線検出器：1次元型半導体式
- 設備状況
- 稼働中
卓上型粉末回折計_Cu_SMF (pXRD_Cu_SMF)
- 設備ID
- NM-215
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- MiniFlex600_Cu
- 仕様・特徴
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cu Kα
・X線検出器：1次元型半導体式
- 設備状況
- 稼働中
薄膜X線回折装置_Cu (TF-XRD_Cu)
- 設備ID
- NM-216
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab
- 仕様・特徴
- ・小角散乱測定
・X線反射率
・X線源：Cu Kα（ Max. 3 kW ）
・検出器：1次元型半導体検出器
・試料部：試料水平型
・測定可能粒子直径：1～100 nm（小角散乱）
・膜厚範囲：1～100 nm（反射率測定）
- 設備状況
- 稼働中
X線構造解析装置 (X-ray structure analyser)
- 設備ID
- NR-301
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab9kW/IP/HY/N
- 仕様・特徴
- ・Ge(220)2結晶装着可
・温度可変試料台
・反射率測定可
- 設備状況
- 稼働中
全自動X線回折装置 (Automated X-ray diffractometer)
- 設備ID
- NU-266
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab 9kW
- 仕様・特徴
- ・線源：Cu Kα線 9kW
・光学系：集中法，平行ビーム法，インプレーン
・多層膜ミラー，Geモノクロメーター付き
・検出器：HyPix-3000二次元検出器
・測定モード：θ－2θスキャン，ロッキングカーブ，逆格子面マッピング，膜面内φスキャン，φ－2θχスキャンなど
- 設備状況
- 稼働中
表面X線回折計 (Surface X-ray diffractometer)
- 設備ID
- QS-113
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- 神津精機（株）ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・半導体ヘテロ構造や多層膜、半導体量子ドット結晶やナノワイヤなどの成長過程について、原子が一層づつ積み上がってゆく様子を、表面X線回折法によってリアルタイム観察できる装置。
・原子状窒素を利用する分子線エピタキシー法により、GaNやInNなどの窒化物半導体の成長を行うことができる。
・良質な電子材料の作成をサポート。
- 設備状況
- 稼働中
コヒーレントX線回折イメージング装置 (Diffractometer for coherent X-ray diffraction imaging)
- 設備ID
- QS-114
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- 神津精機（株）、HUBER社（ドイツ）ほか (Kohzu Precision Co., Ltd., Huber Diffraktionstechnik GmbH & Co. KG, etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・微小結晶粒（粒径：数十nm～数μm）を対象に、形状だけでなく、電子顕微鏡では観察が困難な内部構造（歪分布や欠陥、空洞、ドメイン等）を非破壊・非接触で３次元可視化できる装置。
・硬X線領域のブラッグ反射を用いたコヒーレントX線回折イメージング法を利用する。
・各種ナノ材料の評価をサポート。
・試料温度は室温～1100℃の範囲で設定可能。その他の試料環境制御は要相談。
※従来の設備IDは、QS-221です。
- 設備状況
- 稼働中
高速2体分布関数計測装置 (Diffractometer for rapid-acquisition pair distribution function measurement)
- 設備ID
- QS-115
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- （株）リガクほか (Rigaku Corporation, etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・結晶の平均構造からのずれや局所構造を評価できる原子2体分布関数（PDF）の導出に必要な測定を高速に行う装置。
・粉末X線回折による結晶構造解析も可能。
・最高70 keVの高エネルギーX線の利用により最大Q = 27 Å-1までのX線全散乱測定が可能であり、約100 Åまでの距離相関のPDFが導出可能。
・窒素吹付冷凍機を用いた低温測定、および、1 MPa未満の水素と窒素ガス雰囲気でのその場観察が可能。
・デジタルX線検出器により計測一点につき数秒～数分で実施できる。
- 設備状況
- 稼働中
高温高圧プレス装置 (High-pressure and high-temperature X-ray deffractometer)
- 設備ID
- QS-141
- 設置機関
- 量子科学技術研究開発機構（QST）
- 設備画像
- メーカー名
- 有限会社オーサワシステムほか (Osawa system LLC/Ltd., etc.)
- 型番
- なし（特別仕様）
- 仕様・特徴
- ・高圧高温下での材料の状態変化や反応の進行を、白色X線を用いたエネルギー分散型X線回折法によって観察できる装置。
・圧力10万気圧まで、温度2000℃程度までの発生が可能。
・材料の高温高圧合成をサポート。
・10万気圧、1000℃程度までの超高圧高温の水素雰囲気発生もでき、高温高圧下の金属水素化反応のその場観察による新規水素貯蔵材料の探索に活用されている。
- 設備状況
- 稼働中
薄膜構造評価X線回析装置(XRD) (X-ray diffraction spectrometer)
- 設備ID
- RO-526
- 設置機関
- 広島大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク ()
- 型番
- ATX-E
- 仕様・特徴
- 角度分解能 0.0002度(2θ)
- 設備状況
- 稼働中