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卓上型粉末回折計_Cu_SMF (pXRD_Cu_SMF)
- 設備ID
- NM-215
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- MiniFlex600_Cu
- 仕様・特徴
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cu Kα
・X線検出器：1次元型半導体式
- 設備状況
- 稼働中
薄膜X線回折装置_Cu (TF-XRD_Cu)
- 設備ID
- NM-216
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab
- 仕様・特徴
- ・小角散乱測定
・X線反射率
・X線源：Cu Kα（ Max. 3 kW ）
・検出器：1次元型半導体検出器
・試料部：試料水平型
・測定可能粒子直径：1～100 nm（小角散乱）
・膜厚範囲：1～100 nm（反射率測定）
- 設備状況
- 稼働中
実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡 (Real working environmental electron holography microscope)
- 設備ID
- NM-502
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F-B
- 仕様・特徴
- ・照射系レンズ収差補正、結像系レンズ収差補正
・Cold FEG
・加速電圧: 60, 80, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線ホ口グラフイー, 電子線トモグラフィー
- 設備状況
- 稼働中
200kV電界放出形透過電子顕微鏡（JEM-2100F1） (200kV field emission transmission electron microscope)
- 設備ID
- NM-503
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F1
- 仕様・特徴
- ・ショットキーFEG
・加速電圧: 100, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
- 設備状況
- 稼働中
200kV電界放出形透過電子顕微鏡（JEM-2100F2） (200kV field emission transmission electron microscope)
- 設備ID
- NM-504
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F2
- 仕様・特徴
- ・ショットキーFEG
・加速電圧: 100, 120, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
- 設備状況
- 稼働中
200kV透過電子顕微鏡 (200kV transmission electron microscope)
- 設備ID
- NM-505
- 設置機関
- 物質・材料研究機構 (NIMS)
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100
- 仕様・特徴
- ・熱電子銃
・加速電圧: 80, 100, 120, 160, 200 kV
・TEM, STEM, EDS, EELS, 電子線トモグラフィー
- 設備状況
- 稼働中
X線構造解析装置 (X-ray structure analyser)
- 設備ID
- NR-301
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab9kW/IP/HY/N
- 仕様・特徴
- ・Ge(220)2結晶装着可
・温度可変試料台
・反射率測定可
- 設備状況
- 稼働中
高性能単結晶X線自動解析装置 (High-performance Single Crystal X-ray Automatic Structure Analysis System)
- 設備ID
- NR-304
- 設置機関
- 奈良先端科学技術大学院大学 (NAIST)
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- XtaLAB Synergy-R/Cu
- 仕様・特徴
- 1. 単結晶X線構造解析装置本体（Cu Kα線源、定格最大出力1.2 kW）
2. 窒素ガス吹付型試料冷却装置（80 ~ 500 K）
3. ハイブリッドピクセル検出器(HyPix-6000HE)
4. 遠隔操作（除く試料交換＆センターリング）
- 設備状況
- 稼働中
X線粉末回折装置 (X-ray Diffractometer (Powder Diffraction))
- 設備ID
- NU-002
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク社 (Rigaku)
- 型番
- Smart Lab 3K1d/2dDSC
- 仕様・特徴
- ・最大出力：9kW
・検出器：シンチレーションカウンター、半導体1次元検出器、二次元検出器
・Cuターゲット
・試料水平配置
- 設備状況
- 稼働中
全自動X線回折装置 (Automated X-ray diffractometer)
- 設備ID
- NU-266
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab 9kW
- 仕様・特徴
- ・線源：Cu Kα線 9kW
・光学系：集中法，平行ビーム法，インプレーン
・多層膜ミラー，Geモノクロメーター付き
・検出器：HyPix-3000二次元検出器
・測定モード：θ－2θスキャン，ロッキングカーブ，逆格子面マッピング，膜面内φスキャン，φ－2θχスキャンなど
- 設備状況
- 稼働中