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X線回折装置群 (X-ray diffraction system)
- 設備ID
- KU-514
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLabMicroMax-007HFNANO-Viewer KMYC
- 仕様・特徴
- 【全自動水平型多目的Ｘ線回折装置：SmartLab】
・シンチレーションカウンターおよびD/TEX検出器搭載
・CALSA 超高分解スパイラルアナライザ
・粉末サンプルの定性分析・結晶化度評価・結晶子サイズ可能
【単結晶X線解析装置：MicroMax-007HF】
・高輝度迅速型のＸ線単結晶構造解析装置。
・微小焦点化・高輝度化されており迅速な測定、微小試料の測定が可能。
・X線集光ミラーにVariMax、X線検出部にHypix-6000搭載
・低温吹付装置（窒素）で温度制御可能。
【小角X線散乱装置NANO-Viewer KMYC】
・半導体直接検出型2次元検出器PILATUS100K/R搭載
・バルクサンプルの数nm~数百nm程度の構造評価が可能
・薄膜サンプルの配向評価が可能
・3 msecでの高速読み取りが可能
- 設備状況
- 稼働中
極微小単結晶電子回折システム (Electron diffraction system for crystal structure analysis)
- 設備ID
- KU-520
- 設置機関
- 九州大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- XtaLAB Synergy-ED
- 仕様・特徴
- 電子線源：熱電子放出型電子銃（Lab6）
最高加速電圧：200kV
電子線照射量：0.01e-/Å2/sec以下での測定が可能
解析可能な結晶軸の長さ：60Å以上の結晶軸を持つ試料の構造解析が可能
試料室：試料移動付き4軸（X,Y,Z,X傾斜）ゴニオメーター、ユーセントリックハイトが調整された試料ステージにおいて、データ測定の際に測定対象の試料を常に電子線照射領域内に保持可能
傾斜角：X軸傾斜±80°
検出器：直接検出型フォトンカウンティング方式
検出面積：77.5 × 36.5 mm2
最大フレームレート：131fps（16bit読出時）
ピクセルサイズ：100 × 100 μm2
最大計数率（ダイナミックレンジ）> 1 × 106 cps/pixel
試料室の最高到達真空度：2.0×10-5Pa
- 設備状況
- 稼働中
単結晶X線回折（CCD-1） (Single crystal X-ray diffraction (CCD-1))
- 設備ID
- MS-205
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- MERCURY CCD-1・R-AXIS IV
- 仕様・特徴
- X線源 Mo、50kV・100mA(5kW)
検出器 MERCURY CCD
温度可変 100～400K
- 設備状況
- 稼働中
単結晶X線回折（CCD-2） (Single crystal X-ray diffraction (CCD-2))
- 設備ID
- MS-206
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- MERCURY CCD-2
- 仕様・特徴
- X線源 Mo、50kV・100mA(5kW)
検出器 MERCURY CCD
温度可変 100～400K
- 設備状況
- 稼働中
単結晶X線回折（微小結晶用） (Single crystal X-ray diffraction (for small crystals))
- 設備ID
- MS-207
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- HyPix-AFC
- 仕様・特徴
- X線源 Mo、50kV・16mA(0.8kW)
検出器 HyPix-6000HE
温度可変 100K～RT、24K～100K
微小結晶対応
- 設備状況
- 稼働中
結晶スポンジ法を用いた分子構造解析 (Molecular structure analysis using the crystalline sponge method)
- 設備ID
- MS-208
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- XtaLAB P200
- 仕様・特徴
- XtaLAB P200
X線源 回転対陰極型、Mo/Cuデュアル線源 Mo: 50 kV・24 mA (1.2 kW) Cu: 40 kV・30 mA (1.2 kW)
検出器 PILATUS 200K
温度可変 100 K〜室温
- 設備状況
- 稼働中
粉末X線回折 (Powder x-ray diffraction)
- 設備ID
- MS-209
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- RINT-UltimaIII
- 仕様・特徴
- X線源 Cu、40kV・40mA
光学系 集中法、平行ビーム法、小角散乱
検出器 シンチレーションカウンタ
オプション モノクロメーター、高分解能PSA
- 設備状況
- 稼働中
オペランド多目的X線回析 (Operando Multipurpose X-ray diffraction)
- 設備ID
- MS-210
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- Malvern Panalytical (Malvern Panalytical)
- 型番
- Empyrean
- 仕様・特徴
- X線源 Cu、45kV・40mA、Mo、60kV・40mA
光学系 Cu、Bragg-Bretano HD、集光ミラー、2結晶Ge(220)ハイブリッドモノクロメーター、X線レンズ
Mo、集光ミラー、2結晶Ge(220)ハイブリッドモノクロメーター
検出器 プロポーショナル検出器、半導体検出器
温度可変 -180～500℃、RT～1200℃
- 設備状況
- 稼働中
X線溶液散乱計測システム (X-ray solution scattering measurement system)
- 設備ID
- MS-211
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- NANO-Viewer
- 仕様・特徴
- 高輝度X線発生装置 RA-Micro７
X線輝度：31kW/mm2 出力：1.2kW カメラ長 500ｍｍ
ビームサイズ 0.07ｘ0.7ｍｍ クラツキーブロック
コンフォーカルミラー 2次元検出器 PILATUS200K
循環送水装置 制御・データ処理装置
- 設備状況
- 稼働中
単結晶X線解析 (Single Crystal X-ray Diffractometer)
- 設備ID
- MS-235
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- XtaLAB Synergy-R/DW
- 仕様・特徴
- 極低温（100K～）からの測定が可能。高輝度Ｘ線源（PhotonJet-R/DW：出力1.2kW）と高速読み出しHPC検出器（HyPix-6000）の組み合わせで、超高速・超高精度測定が可能。
- 設備状況
- 稼働中