公開情報
- データリファレンスガイド（リーフレット）
- 発行日：2026年1月
- 対象装置：ARIMに参画する機関が保有する装置（限定）
ダウンロード
| 装置の種類 | 装置メーカー | ダウンロードリンク |
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| 走査電子顕微鏡（SEM） | 日本電子編 | SEM_JEOL [PDF形式／2.67MB] |
| X線光電子分光（XPS） | VG-Scienta編 | XPS_VG-Scienta [PDF形式／2.79MB] |
| シエンタオミクロン編 | XPS_Scienta_EW4000-10keV [PDF形式／3.14MB] XPS_Scienta_HIPP-3 [PDF形式／3.05MB] XPS_Scienta_SES2002 [PDF形式／3.12MB] |
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| KratosAnalytical編 | XPS_Kratos [PDF形式／3.01MB] |
注意事項
本リファレンスガイドは、ARIMに参画する機関が保有する装置に限って作成されており、限定された装置のみに適用されます。
