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- FIBによるMo-Taナノポーラス合金のTEM観察用試料作製(A-23-TU-0044 VERSA_03)
- 課題名:
- ポーラス金属の開発
- 課題番号:
- JPMXP1223TU0119
- ファイル数:
- 17
- 実施機関:
- 東北大学
- 装置・プロセス:
-
TU-508:集束イオンビーム加工装置
関連データカタログ
・FIBによるMo-Taナノポーラス合金のTEM観察用試料作製(A-23-TU-0044 QUANTA_03)
- 登録日:
- 2025.2.13
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- 電極表面でのCO2およびイオン液体の挙動に関する表面増強赤外分光による観察
- 課題名:
- CO2還元電極材料によるCO2変換反応
- 課題番号:
- JPMXP1222NI1001
- ファイル数:
- 6
- 実施機関:
- 名古屋工業大学
- 装置・プロセス:
-
NI-010:表面増強赤外分光装置
- 登録日:
- 2025.11.12
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ICP-RIE_Spicaにおけるガス流量及び圧力とエッチング形状に関する実験 [SEM画像データ編]- 課題名:
- ICP-RIE_Spicaにおけるガス流量及び圧力とエッチング形状に関する実験
- 課題番号:
- JPMXP1225NM2032
- ファイル数:
- 5278
- 実施機関:
- 物質・材料研究機構
- 装置・プロセス:
-
NM-667:FE-SEM+EDX [JSM-IT800]
NM-662:低ダメージ精密エッチング装置 [Spica]
- 登録日:
- 2025.11.11
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GaAs基板上のEBレジスト(ZEP520A)のコントラストカーブ- 課題名:
- GaAs基板上EBレジスト(ZEP520A)のコントラストカーブの現像条件依存性
- 課題番号:
- JPMXP1225NM2008
- ファイル数:
- 90
- 実施機関:
- 物質・材料研究機構
- 装置・プロセス:
-
NM-635:電子ビーム描画装置 [ELS-BODEN100]
- 登録日:
- 2025.8.26
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EBレジスト(FEP-171)の断面形状- 課題名:
- EBレジスト(FEP-171)のリソグラフィ特性
- 課題番号:
- JPMXP1225NM2014
- ファイル数:
- 308
- 実施機関:
- 物質・材料研究機構
- 装置・プロセス:
-
NM-635:電子ビーム描画装置 [ELS-BODEN100]
- 登録日:
- 2025.8.26
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NR-402__理研計器製 大気中光電子分光装置(AC-3)を利用して装置評価用試料である純金を測定した例- 課題名:
- マテリアル研究プラットフォームセンターにおける機器・分析事例データ
- 課題番号:
- JPMXP1225NR9001
- ファイル数:
- 9
- 実施機関:
- 奈良先端科学技術大学院大学
- 装置・プロセス:
-
NR-402:大気中光電子分光装置
- 登録日:
- 2025.7.2
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200kV電界放出形透過電子顕微鏡による金ナノ粒子標準試料観察- 課題名:
- ナノ構造評価技術開発
- 課題番号:
- JPMXP1223NM2102
- ファイル数:
- 48
- 実施機関:
- 物質・材料研究機構
- 装置・プロセス:
-
NM-503:200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F1)
- 登録日:
- 2024.11.20
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真空蒸着により作製したコアシェル型ナノ粒子のTEM/STEM観察- 課題名:
- 金属無機材料の組織と組成に着目した微細構造解析
- 課題番号:
- JPMXP1222OS0000
- ファイル数:
- 90
- 実施機関:
- 大阪大学
- 装置・プロセス:
-
OS-003:200kV原子分解能走査透過分析電子顕微鏡
- 登録日:
- 2023.11.30
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- パルスESRを用いたスピン間距離測定による輸送膜タンパク質の構造解析
- 課題名:
- パルスESRを用いたスピン間距離測定による輸送膜タンパク質の構造解析
- 課題番号:
- JPMXP1222MS0017
- ファイル数:
- 7
- 実施機関:
- 自然科学研究機構
- 装置・プロセス:
-
MS-214:電子スピン共鳴(E680)
- 登録日:
- 2025.10.22
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直交型FIB-SEMによる熱電材料中のナノ構造組織の解析_β-FeSi2の加工- 課題名:
- 機能性向上を目指した熱電材料中のナノ構造組織の解析
- 課題番号:
- JPMXP1222KU0023
- ファイル数:
- 51
- 実施機関:
- 九州大学
- 装置・プロセス:
-
KU-006:直交型FIB-SEM
- 登録日:
- 2025.10.1
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Various TEM analyses of a standard specimen (cross grating)- 課題名:
- Various TEM analyses of a standard specimen (cross grating
- 課題番号:
- JPMXP1222NM1003
- ファイル数:
- 12
- 実施機関:
- 物質・材料研究機構
- 装置・プロセス:
-
NM-402:単原子分析電子顕微鏡
- 登録日:
- 2023.12.25
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JAMP-9500FによるAESの一般測定データセット (1295データ)- 課題名:
- オージェ電子分光装置JAMP-9500Fによる参照オージェスペクトル
- 課題番号:
- JPMXP1224NM2201
- ファイル数:
- 6475
- 実施機関:
- 物質・材料研究機構
- 装置・プロセス:
-
NM-208:走査型オージェ電子分光分析装置
- 登録日:
- 2024.12.17
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ARIM学生研修プログラムによる有機、無機固体材料の固体NMR測定- 課題名:
- ARIM学生研修プログラムによる有機、無機固体材料の固体NMR測定
- 課題番号:
- JPMXP1224JI2001
- ファイル数:
- 40
- 実施機関:
- 北陸先端科学技術大学院大学
- 装置・プロセス:
-
JI-002:核磁気共鳴スペクトル測定装置 500MHz
- 登録日:
- 2024.10.23
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紫外光電子分光法による仕事関数測定- 課題名:
- 紫外光電子分光法による仕事関数測定
- 課題番号:
- JPMXP1222HK9003
- ファイル数:
- 54
- 実施機関:
- 北海道大学
- 装置・プロセス:
-
HK-408:大気中紫外光電子分光装置
- 登録日:
- 2023.10.31
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- 熱電変換材料の表面改質プロセス
- 課題名:
- 熱電変換材料の表面改質プロセスに関する研究
- 課題番号:
- JPMXP1223NI0301
- ファイル数:
- 3
- 実施機関:
- 名古屋工業大学
- 装置・プロセス:
-
NI-003:白色共焦点顕微鏡
- 登録日:
- 2025.9.29
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X線光電子分光装置を用いた標準試料測定データの取得- 課題名:
- X線光電子分光装置を用いた標準試料測定データの取得
- 課題番号:
- JPMXP1222HK9001
- ファイル数:
- 130
- 実施機関:
- 北海道大学
- 装置・プロセス:
-
HK-201:X線光電子分光装置
HK-406:X線光電子分光装置
- 登録日:
- 2024.9.10
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成膜装置による膜特性の差異確認(2022年度:EVC-1501)- 課題名:
- 成膜装置による膜特性の差異確認
- 課題番号:
- JPMXP1222WS0004
- ファイル数:
- 24
- 実施機関:
- 早稲田大学
- 装置・プロセス:
-
WS-002:電子ビーム蒸着装置
- 登録日:
- 2024.11.11
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トリフルオロ酢酸ナトリウムの分析- 課題名:
- トリフルオロ酢酸ナトリウムの分析
- 課題番号:
- JPMXP1224JI2005
- ファイル数:
- 5
- 実施機関:
- 北陸先端科学技術大学院大学
- 装置・プロセス:
-
JI-019:フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計
- 登録日:
- 2024.12.16
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マイクロ流路を用いたタンパク質結晶生成とその取り出し(2023年度:MLA150)- 課題名:
- マイクロ流路を用いたタンパク質結晶生成とその取り出し
- 課題番号:
- JPMXP1223WS0004
- ファイル数:
- 4
- 実施機関:
- 早稲田大学
- 装置・プロセス:
-
WS-016:レーザー直接描画装置
- 登録日:
- 2025.11.18
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JAMP-9500FによるAESの電子線照射損傷測定-冷却法データセット (890データ)- 課題名:
- オージェ電子分光装置JAMP-9500Fによる参照オージェスペクトル
- 課題番号:
- JPMXP1224NM2201
- ファイル数:
- 8010
- 実施機関:
- 物質・材料研究機構
- 装置・プロセス:
-
NM-208:走査型オージェ電子分光分析装置
- 登録日:
- 2024.12.31
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