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FIBによるMo-Taナノポーラス合金のTEM観察用試料作製(A-23-TU-0044 VERSA_03)
課題名:
ポーラス金属の開発
課題番号:
JPMXP1223TU0119
ファイル数:
17
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
TU-508:集束イオンビーム加工装置

関連データカタログ
・FIBによるMo-Taナノポーラス合金のTEM観察用試料作製(A-23-TU-0044 QUANTA_03)


登録日:
2025.2.13
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薄片化した試料のSEM像.png
電極表面でのCO2およびイオン液体の挙動に関する表面増強赤外分光による観察
課題名:
CO2還元電極材料によるCO2変換反応
課題番号:
JPMXP1222NI1001
ファイル数:
6
実施機関:
名古屋工業大学
装置・プロセス:
NI-010:表面増強赤外分光装置
登録日:
2025.11.12
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230201_Cu-1(Ar)_-2.5_+1V(2回目)_calc.png
doiICP-RIE_Spicaにおけるガス流量及び圧力とエッチング形状に関する実験 [SEM画像データ編]
課題名:
ICP-RIE_Spicaにおけるガス流量及び圧力とエッチング形状に関する実験
課題番号:
JPMXP1225NM2032
ファイル数:
5278
実施機関:
物質・材料研究機構
装置・プロセス:
NM-667:FE-SEM+EDX [JSM-IT800]
NM-662:低ダメージ精密エッチング装置 [Spica]
登録日:
2025.11.11
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doiGaAs基板上のEBレジスト(ZEP520A)のコントラストカーブ
課題名:
GaAs基板上EBレジスト(ZEP520A)のコントラストカーブの現像条件依存性
課題番号:
JPMXP1225NM2008
ファイル数:
90
実施機関:
物質・材料研究機構
装置・プロセス:
NM-635:電子ビーム描画装置 [ELS-BODEN100]
登録日:
2025.8.26
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ZEP520A_on_GaAs.png
doiEBレジスト(FEP-171)の断面形状
課題名:
EBレジスト(FEP-171)のリソグラフィ特性
課題番号:
JPMXP1225NM2014
ファイル数:
308
実施機関:
物質・材料研究機構
装置・プロセス:
NM-635:電子ビーム描画装置 [ELS-BODEN100]
登録日:
2025.8.26
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FEP-171(描画面積と現像速度).png
doiNR-402__理研計器製 大気中光電子分光装置(AC-3)を利用して装置評価用試料である純金を測定した例
課題名:
マテリアル研究プラットフォームセンターにおける機器・分析事例データ
課題番号:
JPMXP1225NR9001
ファイル数:
9
実施機関:
奈良先端科学技術大学院大学
装置・プロセス:
NR-402:大気中光電子分光装置
登録日:
2025.7.2
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Au_autofit
doi200kV電界放出形透過電子顕微鏡による金ナノ粒子標準試料観察
課題名:
ナノ構造評価技術開発
課題番号:
JPMXP1223NM2102
ファイル数:
48
実施機関:
物質・材料研究機構
装置・プロセス:
NM-503:200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F1)
登録日:
2024.11.20
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503.png
doi真空蒸着により作製したコアシェル型ナノ粒子のTEM/STEM観察
課題名:
金属無機材料の組織と組成に着目した微細構造解析
課題番号:
JPMXP1222OS0000
ファイル数:
90
実施機関:
大阪大学
装置・プロセス:
OS-003:200kV原子分解能走査透過分析電子顕微鏡
登録日:
2023.11.30
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パルスESRを用いたスピン間距離測定による輸送膜タンパク質の構造解析
課題名:
パルスESRを用いたスピン間距離測定による輸送膜タンパク質の構造解析
課題番号:
JPMXP1222MS0017
ファイル数:
7
実施機関:
自然科学研究機構
装置・プロセス:
MS-214:電子スピン共鳴(E680)
登録日:
2025.10.22
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18_DEER_sc10_60K
doi直交型FIB-SEMによる熱電材料中のナノ構造組織の解析_β-FeSi2の加工
課題名:
機能性向上を目指した熱電材料中のナノ構造組織の解析
課題番号:
JPMXP1222KU0023
ファイル数:
51
実施機関:
九州大学
装置・プロセス:
KU-006:直交型FIB-SEM
登録日:
2025.10.1
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β-FeSi201_SEM_013.jpeg
doiVarious TEM analyses of a standard specimen (cross grating)
課題名:
Various TEM analyses of a standard specimen (cross grating
課題番号:
JPMXP1222NM1003
ファイル数:
12
実施機関:
物質・材料研究機構
装置・プロセス:
NM-402:単原子分析電子顕微鏡
登録日:
2023.12.25
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doiJAMP-9500FによるAESの一般測定データセット (1295データ)
課題名:
オージェ電子分光装置JAMP-9500Fによる参照オージェスペクトル
課題番号:
JPMXP1224NM2201
ファイル数:
6475
実施機関:
物質・材料研究機構
装置・プロセス:
NM-208:走査型オージェ電子分光分析装置
登録日:
2024.12.17
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24NM2201_NM208-01_Si-data027.A.png
doiARIM学生研修プログラムによる有機、無機固体材料の固体NMR測定
課題名:
ARIM学生研修プログラムによる有機、無機固体材料の固体NMR測定
課題番号:
JPMXP1224JI2001
ファイル数:
40
実施機関:
北陸先端科学技術大学院大学
装置・プロセス:
JI-002:核磁気共鳴スペクトル測定装置 500MHz
登録日:
2024.10.23
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20240719_7Li_LiC6_1
doi紫外光電子分光法による仕事関数測定
課題名:
紫外光電子分光法による仕事関数測定
課題番号:
JPMXP1222HK9003
ファイル数:
54
実施機関:
北海道大学
装置・プロセス:
HK-408:大気中紫外光電子分光装置
登録日:
2023.10.31
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AC-3_CVD_SiO2
熱電変換材料の表面改質プロセス
課題名:
熱電変換材料の表面改質プロセスに関する研究
課題番号:
JPMXP1223NI0301
ファイル数:
3
実施機関:
名古屋工業大学
装置・プロセス:
NI-003:白色共焦点顕微鏡
登録日:
2025.9.29
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doiX線光電子分光装置を用いた標準試料測定データの取得
課題名:
X線光電子分光装置を用いた標準試料測定データの取得
課題番号:
JPMXP1222HK9001
ファイル数:
130
実施機関:
北海道大学
装置・プロセス:
HK-201:X線光電子分光装置
HK-406:X線光電子分光装置
登録日:
2024.9.10
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doi成膜装置による膜特性の差異確認(2022年度:EVC-1501)
課題名:
成膜装置による膜特性の差異確認
課題番号:
JPMXP1222WS0004
ファイル数:
24
実施機関:
早稲田大学
装置・プロセス:
WS-002:電子ビーム蒸着装置
登録日:
2024.11.11
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Fig.1 EB蒸着 SiO2 Breakdown voltage(MV/cm)
doiトリフルオロ酢酸ナトリウムの分析
課題名:
トリフルオロ酢酸ナトリウムの分析
課題番号:
JPMXP1224JI2005
ファイル数:
5
実施機関:
北陸先端科学技術大学院大学
装置・プロセス:
JI-019:フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析計
登録日:
2024.12.16
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doiマイクロ流路を用いたタンパク質結晶生成とその取り出し(2023年度:MLA150)
課題名:
マイクロ流路を用いたタンパク質結晶生成とその取り出し
課題番号:
JPMXP1223WS0004
ファイル数:
4
実施機関:
早稲田大学
装置・プロセス:
WS-016:レーザー直接描画装置
登録日:
2025.11.18
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Fig.1 作製したマイクロ流路のCADと流路の高さ(100 µm)の図
doiJAMP-9500FによるAESの電子線照射損傷測定-冷却法データセット (890データ)
課題名:
オージェ電子分光装置JAMP-9500Fによる参照オージェスペクトル
課題番号:
JPMXP1224NM2201
ファイル数:
8010
実施機関:
物質・材料研究機構
装置・プロセス:
NM-208:走査型オージェ電子分光分析装置
登録日:
2024.12.31
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data046R003