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- 電極材料の微構造観察
- 課題名：
- 電極材料の評価
- 課題番号：
- JPMXP1224UT9001
- ファイル数：
- 46
- 実施機関：
- 東京大学
- 装置・プロセス：
-
UT-101：低損傷走査型分析電子顕微鏡
- 登録日：
- 2025.3.12
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高分子表面のTOF-SIMS測定- 課題名：
- 高分子表面のTOF-SIMS測定
- 課題番号：
- JPMXP1222NI1101
- ファイル数：
- 27
- 実施機関：
- 名古屋工業大学
- 装置・プロセス：
-
NI-011：飛行時間型二次イオン質量分析装置
- 登録日：
- 2025.9.29
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- 【カーボンデータベース】炭素材料のラマン分光 KU-504-1 ラマン分光
- 課題名：
- 炭素材料のデータベース化
- 課題番号：
- JPMXP1222KU1007
- ファイル数：
- 108
- 実施機関：
- 九州大学
- 装置・プロセス：
-
KU-504：レーザラマン分光光度計装置
- 登録日：
- 2025.10.22
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- Au, Ag, Cu標準試料のUPS測定結果（2022年度）
- 課題名：
- AIST NPF加工データ集（2022年）
- 課題番号：
- JPMXP1222AT0470
- ファイル数：
- 14
- 実施機関：
- 産業技術総合研究所
- 装置・プロセス：
-
AT-074：エックス線光電子分光分析装置(XPS)
- 登録日：
- 2025.10.21
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- SQUID（MPMS-7）によるキラル磁性体の磁気物性測定
- 課題名：
- キラル磁性体の磁気物性
- 課題番号：
- JPMXP1222MS1047
- ファイル数：
- 19
- 実施機関：
- 自然科学研究機構
- 装置・プロセス：
-
MS-218：SQUID（MPMS-7）
- 登録日：
- 2025.11.12
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- X線光電子分光を用いた単結晶モデル光触媒のX線光電子分光による表面組成分析の研究
- 課題名：
- 単結晶モデル光触媒のX線光電子分光による表面組成分析
- 課題番号：
- JPMXP1223MS5043
- ファイル数：
- 59
- 実施機関：
- 自然科学研究機構
- 装置・プロセス：
-
MS-213：X線光電子分光
- 登録日：
- 2025.11.28
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- オックスフォードインスツルメント社製ALD装置〔FlexAL〕を用いたALD成膜レシピとその膜特性（2024年度）
- 課題名：
- ALD成膜基礎データ(2024年)
- 課題番号：
- JPMXP1224AT0166
- ファイル数：
- 40
- 実施機関：
- 産業技術総合研究所
- 装置・プロセス：
-
AT-102：原子層堆積装置_3〔FlexAL〕
- 登録日：
- 2025.10.21
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- ウェアラブルデバイス向け伸縮性電極の作製
- 課題名：
- ウェアラブルデバイス向け伸縮性電極の作製
- 課題番号：
- JPMXP1222UT1201
- ファイル数：
- 3
- 実施機関：
- 東京大学
- 装置・プロセス：
-
UT-913：UVレーザープリント基板加工装置
- 登録日：
- 2025.8.29
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- Monochromated EELS of NiO
- 課題名：
- Monochromated EELS of NiO
- 課題番号：
- JPMXP1222NM1004
- ファイル数：
- 12
- 実施機関：
- 物質・材料研究機構
- 装置・プロセス：
-
NM-402：単原子分析電子顕微鏡
- 登録日：
- 2023.10.27
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- Ｓｉ深堀エッチング装置〔PlasmaPro_100〕の加工データ集（ボッシュプロセス TSVエッチング条件だし）（2023年度）
- 課題名：
- AIST NPF加工データ集（2023年）
- 課題番号：
- JPMXP1223AT0099
- ファイル数：
- 150
- 実施機関：
- 産業技術総合研究所
- 装置・プロセス：
-
AT-101：Ｓｉ深堀エッチング装置〔PlasmaPro_100〕
- 登録日：
- 2025.10.21
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- Au標準試料のXPS測定結果（2022年度）
- 課題名：
- AIST NPF加工データ集（2022年）
- 課題番号：
- JPMXP1222AT0470
- ファイル数：
- 15
- 実施機関：
- 産業技術総合研究所
- 装置・プロセス：
-
AT-074：エックス線光電子分光分析装置(XPS)
- 登録日：
- 2025.10.21
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- 量子デバイス作製プロセス（2023年度）
- 課題名：
- AIST NPF加工データ集（2023年）
- 課題番号：
- JPMXP1223AT0099
- ファイル数：
- 884
- 実施機関：
- 産業技術総合研究所
- 装置・プロセス：
-
AT-093：高速電子ビーム描画装置（エリオニクス）
- 登録日：
- 2025.10.21
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- 熱電変換材料開発のためのFe基ホイスラー化合物の顕微蛍光X線分析装置による組成分析
- 課題名：
- 新規熱電変換材料開発のためのFe基ホイスラー化合物の組成分析
- 課題番号：
- JPMXP1222NI1202
- ファイル数：
- 30
- 実施機関：
- 名古屋工業大学
- 装置・プロセス：
-
NI-012：顕微蛍光X線分析装置
- 登録日：
- 2025.9.29
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- 【カーボンデータベース】炭素材料のX線回折 KU-514-1 XRD
- 課題名：
- 炭素材料のデータベース化
- 課題番号：
- JPMXP1222KU1007
- ファイル数：
- 38
- 実施機関：
- 九州大学
- 装置・プロセス：
-
KU-514：X線回折装置群
- 登録日：
- 2025.10.22
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- 高速電子ビーム描画装置（エリオニクス）の標準露光レシピ（2022年度）
- 課題名：
- AIST NPF加工データ集（2022年）
- 課題番号：
- JPMXP1222AT0470
- ファイル数：
- 12
- 実施機関：
- 産業技術総合研究所
- 装置・プロセス：
-
AT-093：高速電子ビーム描画装置（エリオニクス）
- 登録日：
- 2025.10.21
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- ALDとXPS複合装置によるALD成膜過程のその場分析（AT-104）（2024年度）
- 課題名：
- ALDとXPS複合装置によるALD成膜過程のその場分析
- 課題番号：
- JPMXP1224AT0347
- ファイル数：
- 15
- 実施機関：
- 産業技術総合研究所
- 装置・プロセス：
-
AT-104：原子層堆積装置_4〔FlexAL〕
- 登録日：
- 2025.10.21
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- グレースケール露光によるマイクロ流体デバイスの高精度設計
- 課題名：
- 分裂酵母ライブイメージングとデバイス内部からの選択的回収
- 課題番号：
- JPMXP1222MS3002
- ファイル数：
- 5
- 実施機関：
- 自然科学研究機構
- 装置・プロセス：
-
MS-101：マスクレス露光装置
- 登録日：
- 2025.10.22
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- オックスフォードインスツルメント社製ALD装置〔FlexAL〕を用いたALD成膜レシピとその膜特性
- 課題名：
- ALD成膜基礎データ(2022年)
- 課題番号：
- JPMXP1222AT0458
- ファイル数：
- 27
- 実施機関：
- 産業技術総合研究所
- 装置・プロセス：
-
AT-031：原子層堆積装置_1[FlexAL]
- 登録日：
- 2024.10.28
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- JAMP-9500FによるAESの電子線照射損傷測定-常温法データセット (1835データ)
- 課題名：
- オージェ電子分光装置JAMP-9500Fによる参照オージェスペクトル
- 課題番号：
- JPMXP1224NM2201
- ファイル数：
- 16515
- 実施機関：
- 物質・材料研究機構
- 装置・プロセス：
-
NM-208：走査型オージェ電子分光分析装置
- 登録日：
- 2025.4.24
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- annealed KI:AgIのTEM観測
- 課題名：
- 種々のKI結晶中に生成したAgIナノ結晶の電子顕微鏡観察
- 課題番号：
- JPMXP1222MS1040
- ファイル数：
- 19
- 実施機関：
- 自然科学研究機構
- 装置・プロセス：
-
MS-203：電界放出形透過型電子顕微鏡
- 登録日：
- 2025.10.22
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