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doiアノード酸化により化成した皮膜の構造及び組成解析【HK-401_JEM-ARM200F_TEM】
課題名:
アノード酸化により化成した皮膜の構造及び組成解析
課題番号:
JPMXP1222HK0022
ファイル数:
390
実施機関:
北海道大学
装置・プロセス:
HK-401:収差補正走査型透過電子顕微鏡
登録日:
2025.6.4
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Fig 1
doi熱電材料中のナノ構造組織の解析_β-FeSi2(β-FeSi202)のFIB加工
課題名:
機能性向上を目指した熱電材料中のナノ構造組織の解析
課題番号:
JPMXP1222KU0023
ファイル数:
56
実施機関:
九州大学
装置・プロセス:
KU-005:デュアルビームFIB-SEM加工装置
登録日:
2025.7.11
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β-FeSi202_001.jpg
doiCa2RuO4/LaAlO3 (001)エピタキシャル薄膜のSTEM観察_Sample4
課題名:
モット絶縁体Ca2RuO4薄膜に対する欠陥構造と原子構造の精密解析
課題番号:
JPMXP1222KU0049
ファイル数:
135
実施機関:
九州大学
装置・プロセス:
KU-004:広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡
登録日:
2025.7.30
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JEOL ADF_200kV_0091
doiSrTiO3の室温におけるEELS (Ti L2,3-edge)
課題名:
京大 計測 スタッフデータ 2025
課題番号:
JPMXP1225KT0900
ファイル数:
6
実施機関:
京都大学
装置・プロセス:
KT-403:モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡
登録日:
2025.8.1
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linear
doi特殊環境下に最適な防錆剤の研究【HK-201_JPS-9200_XPS】
課題名:
特殊環境下に最適な防錆剤の研究
課題番号:
JPMXP1222HK0051
ファイル数:
5
実施機関:
北海道大学
装置・プロセス:
HK-201:X線光電子分光装置
登録日:
2025.6.4
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Fig1
doi熱電材料中のナノ構造組織の解析_β-FeSi2(β-FeSi201)のTEM観察
課題名:
機能性向上を目指した熱電材料中のナノ構造組織の解析
課題番号:
JPMXP1222KU0023
ファイル数:
165
実施機関:
九州大学
装置・プロセス:
KU-002:収差補正走査/透過電子顕微鏡
登録日:
2025.7.11
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001_DIFF_annotation.png
doi熱刺激電流(TSC)の可視化解析技術による電気・電子材料の欠陥評価
課題名:
熱刺激電流(TSC)の可視化解析技術による電気・電子材料の欠陥評価
課題番号:
JPMXP1222IT0060
ファイル数:
7
実施機関:
東京科学大学(旧東京工業大学)
装置・プロセス:
IT-004:マスクレス露光装置
登録日:
2025.7.10
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2インチGaAs基板上に作製されたTSC測定用チップ
doiObservation of atomic arrangement at the heterojunction interface of high temperature superconductor heterostructures
課題名:
Observation of atomic arrangement at the heterojunction interface of high temperature superconductor heterostructures
課題番号:
JPMXP1222JI0053
ファイル数:
149
実施機関:
北陸先端科学技術大学院大学
装置・プロセス:
JI-008:原子分解能走査透過型電子顕微鏡
登録日:
2025.4.17
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162e512f-fc58-4caf-a66d-d4669fc70000
doiSi基板上のEBレジスト(AR-P6200)のコントラストカーブ
課題名:
Si基板上EBレジスト(AR-P6200)のコントラストカーブの現像条件依存性
課題番号:
JPMXP1225NM2002
ファイル数:
178
実施機関:
物質・材料研究機構
装置・プロセス:
NM-635:電子ビーム描画装置 [ELS-BODEN100]
登録日:
2025.8.26
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AR-P6200_on_Si.png
doi積層配線_Au500_Cr100_cleaning_liftoff_
課題名:
リフトオフによるAu/Cr薄膜配線形成
課題番号:
JPMXP1225TU5009
ファイル数:
11
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
TU-001:エッチングチャンバー
TU-002:有機ドラフトチャンバー

関連データカタログ
・積層配線_Au500_Cr100_processflow
・積層配線_Au500_Cr100_lithography
・積層配線_Au500_Cr100_sputtering


登録日:
2025.9.18
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Au500_Cr100_配線抵抗_vs_配線長さ
doiHoMn(1–x)Ti(x)O(3)におけるHAADF-STEM像
課題名:
2025電顕センタースタッフデータ
課題番号:
JPMXP1225OS0000
ファイル数:
76
実施機関:
大阪大学
装置・プロセス:
OS-003:200kV原子分解能走査透過分析電子顕微鏡
登録日:
2025.10.8
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HoMn1–𝑥Ti𝑥O3におけるHAADF-STEM像
Cu配線形成テスト_Wet cleaning_etch
課題名:
Cu配線形成テスト
課題番号:
JPMXP1225TU5001
ファイル数:
7
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
TU-002:有機ドラフトチャンバー
TU-306:Tencor 段差計
TU-307:金属顕微鏡
TU-317:測長SEM

関連データカタログ
・Cu配線形成テスト_Process flow
・Cu配線形成テスト_Lithography
・Cu配線形成テスト_Sputtering
・Cu配線形成テスト_Ion milling


登録日:
2025.5.8
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240826_レジスト剥離後_段差計
Co2MnGaホイスラー化合物の顕微蛍光X線分析装置による組成分析
課題名:
新規熱電変換材料開発のためのCo基ホイスラー化合物の組成分析
課題番号:
JPMXP1222NI1201
ファイル数:
11
実施機関:
名古屋工業大学
装置・プロセス:
NI-012:顕微蛍光X線分析装置
登録日:
2025.8.27
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スペクトル1.png
doi2022_固体NMRを用いたセメント系材料と高分子の相互作用の評価に関する研究_NMR
課題名:
固体NMRを用いたセメント系材料と高分子の相互作用の評価に関する研究
課題番号:
JPMXP1222CT0213
ファイル数:
35
実施機関:
公立千歳科学技術大学
装置・プロセス:
CT-005:核磁気共鳴装置(NMR)
登録日:
2025.6.25
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Si29_DDMAS_Kitagaki_cement_230131_1
doi2022_炭素系素材および関連素材を利用する新材料の創製(無水コハク酸(加水分解前後))_FTIR
課題名:
炭素系素材および関連素材を利用する新材料の創製
課題番号:
JPMXP1222CT0053
ファイル数:
10
実施機関:
公立千歳科学技術大学
装置・プロセス:
CT-002:フーリエ変換赤外分光光度計(FTIR)/赤外顕微鏡
登録日:
2025.5.27
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succinic_anhydrous
doiプローブ部品の表面の微細構造_FIB-SEM
課題名:
プローブ部品の表面の微細構造
課題番号:
JPMXP1222NU0068
ファイル数:
6
実施機関:
名古屋大学
装置・プロセス:
NU-105:バイオ/無機材料用高速FIB-SEMシステム
登録日:
2025.5.22
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02
グラファイト基盤上の金蒸着粒子
課題名:
グラファイト基盤上の金蒸着粒子
課題番号:
JPMXP1222JI1005
ファイル数:
14
実施機関:
北陸先端科学技術大学院大学
装置・プロセス:
JI-010:低加速走査電子顕微鏡
登録日:
2023.10.27
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thumbnail.png
doi導波路型光アイソレータおよび磁気光学デバイスの製作
課題名:
導波路型光アイソレータおよび磁気光学デバイスの製作
課題番号:
JPMXP1222IT0030
ファイル数:
5
実施機関:
東京科学大学(旧東京工業大学)
装置・プロセス:
IT-015:SiO2プラズマCVD 装置
登録日:
2025.7.10
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TEモード動作リング共振器型光アイソレータ
doi酸素発生用触媒(Ni-Fe/C)のガス吸着・脱離(22KU1050_Ni2Fe/C_KU-517-2)
課題名:
Molten salt-assisted fabrication of NiFe/C composite for OER
課題番号:
JPMXP1222KU1050
ファイル数:
8
実施機関:
九州大学
装置・プロセス:
KU-517:ナノ炭素燃料電池評価装置群
登録日:
2025.4.10
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abs_des
*******非開示*******
課題名:
*******非開示*******
課題番号:
JPMXP12********
ファイル数:
28
実施機関:
九州大学
装置・プロセス:
KU-005:デュアルビームFIB-SEM加工装置
登録日:
2025.4.18
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