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doiペロブスカイト膜の断面SEMデータ
課題名:
無機有機ペロブスカイト膜の構造評価
課題番号:
JPMXP1222KT1264
ファイル数:
3
実施機関:
京都大学
装置・プロセス:
KT-301:超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡
KT-310:X線回折装置
KT-325:卓上顕微鏡(SEM)
登録日:
2025.6.30
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14-2断面3Image(x2.0k)
doiOS-104:ELS-BODEN:50nmピッチ細線描画時の最適Dose及びMinimum line width
課題名:
阪大 産研 スタッフデータ 2025
課題番号:
JPMXP1225OS9001
ファイル数:
13
実施機関:
大阪大学
装置・プロセス:
OS-104:自動搬送電子ビーム描画装置
登録日:
2025.10.20
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OS-104_細線描画_設計2
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 (Regulus8230)によるナノ観察
課題名:
フォトリソグラフィ技術によるX線レーザーイメージングのための試料ホルダ作製
課題番号:
JPMXP1222HK0107
ファイル数:
49
実施機関:
北海道大学
装置・プロセス:
HK-404:超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡
登録日:
2025.6.4
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Fig1
*******非開示*******
課題名:
*******非開示*******
課題番号:
JPMXP12********
ファイル数:
19
実施機関:
北海道大学
装置・プロセス:
HK-304:集束イオンビーム加工・観察装置
登録日:
2025.6.9
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*******非開示*******
課題名:
*******非開示*******
課題番号:
JPMXP12********
ファイル数:
69
実施機関:
九州大学
装置・プロセス:
KU-004:広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡
登録日:
2025.7.11
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JEOL ADF_80kV_0135_annotation.png
doiドライ酸素ガスによるSi基板の熱酸化膜の評価(分光エリプソメーター)
課題名:
ドライ酸素ガスによるSi基板の熱酸化膜の評価
課題番号:
JPMXP1222WS0083
ファイル数:
39
実施機関:
早稲田大学
装置・プロセス:
WS-026:高性能分光エリプソメータ
登録日:
2024.11.11
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熱酸化膜の膜厚の時間依存性
doi2022_金属ナノ粒子のアミノ酸修飾の確認_SEM
課題名:
金属ナノ粒子のアミノ酸修飾の確認
課題番号:
JPMXP1222CT0085
ファイル数:
80
実施機関:
公立千歳科学技術大学
装置・プロセス:
CT-010:走査型電子顕微鏡(SEM)
登録日:
2025.6.24
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spot1-2(x5.0k)
doiドープ型PEDOTの単結晶オリゴマーモデルの磁性における共役系拡張効果1
課題名:
ドープ型PEDOTの単結晶オリゴマーモデルの磁性における共役系拡張効果
課題番号:
JPMXP1222MS1044
ファイル数:
5
実施機関:
自然科学研究機構
装置・プロセス:
MS-216:電子スピン共鳴(E500)
登録日:
2025.11.1
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CL_290K
doi発光賦活希土類イオンEu3+ を添加したCa2SnO4 赤色蛍光体のSTEM観察
課題名:
先端電子顕微鏡群によるナノ材料の物性解析及び可視化
課題番号:
JPMXP1222NU0058
ファイル数:
163
実施機関:
名古屋大学
装置・プロセス:
NU-102:高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム
登録日:
2025.5.22
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ADF-STEM_000
doi2022_架橋された再生セルロースの応用_蛍光顕微鏡
課題名:
架橋された再生セルロースの応用
課題番号:
JPMXP1222CT0118
ファイル数:
55
実施機関:
公立千歳科学技術大学
装置・プロセス:
CT-008:蛍光顕微鏡
登録日:
2025.6.24
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omura-powder
超伝導デバイスの作製【HK-616_SUNALE-R_ALD】
課題名:
超伝導デバイスの作製
課題番号:
JPMXP1222HK0098
ファイル数:
3
実施機関:
北海道大学
装置・プロセス:
HK-616:原子層堆積装置
登録日:
2025.6.4
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FI-02製イマージョン回折格子の形状・表面粗さ測定
課題名:
FI-02製イマージョン回折格子の形状・表面粗さ測定
課題番号:
JPMXP1222MS3007
ファイル数:
62
実施機関:
自然科学研究機構
装置・プロセス:
MS-102:3次元光学プロファイラーシステム
登録日:
2025.11.1
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sample02_side_profile_01
3次元パワーICのプロセス技術の開発
課題名:
3次元パワーICのプロセス技術の開発
課題番号:
JPMXP1222RO0032
ファイル数:
4
実施機関:
広島大学
装置・プロセス:
RO-533:原子間力顕微鏡
登録日:
2025.7.22
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doi担持複合金属触媒(Co/Ba/MgO)の高分解能電子顕微鏡解析
課題名:
CO2の資源化を志向した担持複合金属触媒の高分解能電子顕微鏡解析
課題番号:
JPMXP1222KU0011
ファイル数:
183
実施機関:
九州大学
装置・プロセス:
KU-002:収差補正走査/透過電子顕微鏡
登録日:
2025.7.11
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3NL-224_0003_annotation.png
電子ビーム描画装置を用いたリソグラフィによる微細構造の製作および評価
課題名:
未定
課題番号:
JPMXP1222MS5044
ファイル数:
5
実施機関:
自然科学研究機構
装置・プロセス:
MS-103:電子ビーム描画装置
登録日:
2025.10.22
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走化性スクリーニング流路
doi複合ビーム3次元加工・観察装置FIB-SEMによるSlice and view
課題名:
2025電顕センタースタッフデータ
課題番号:
JPMXP1225OS0000
ファイル数:
44
実施機関:
大阪大学
装置・プロセス:
OS-005:複合ビーム3次元加工・観察装置
登録日:
2025.10.8
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複合ビーム3次元加工・観察装置FIB-SEMによるSlice and view
doiFeSiBアモルファス薄膜およびグラニュラー薄膜を利用したひずみセンサ試作のための素子パターン
課題名:
FeSiBアモルファス薄膜を用いたひずみセンサの試作
課題番号:
JPMXP1222NU0235
ファイル数:
4
実施機関:
名古屋大学
装置・プロセス:
NU-231:マスクレス露光装置
登録日:
2025.5.27
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doiSUS316L造形体のTEM/STEM観察
課題名:
金属無機材料の組織と組成に着目した微細構造解析
課題番号:
JPMXP1222OS0000
ファイル数:
53
実施機関:
大阪大学
装置・プロセス:
OS-003:200kV原子分解能走査透過分析電子顕微鏡
登録日:
2023.12.8
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thumbnail.png
doiPDMS-PDMS接合を用いたマイクロ流体デバイス作製プロセスの最適化(SU8240)
課題名:
PDMS-PDMS接合を用いたマイクロ流体デバイス作製プロセスの最適化(SU8240)
課題番号:
JPMXP1222WS0100
ファイル数:
3
実施機関:
早稲田大学
装置・プロセス:
WS-012:電界放出型 走査電子顕微鏡
登録日:
2025.6.3
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Fig.1 本マイクロ流体デバイス得られたリゾチーム結晶
doiFIBによるFe/FeOOH複合膜のTEM観察用試料作製(A-22-TU-0080 QUANTA_01)
課題名:
複合皮膜の構造評価
課題番号:
JPMXP1222TU0197
ファイル数:
19
実施機関:
東北大学
装置・プロセス:
TU-507:集束イオンビーム加工装置

関連データカタログ
・Fe/FeOOH複合膜のTEM観察(A-22-TU-0080 ARM_01)
・FIBによるFe/FeOOH複合膜のTEM観察用試料作製(A-22-TU-0080 VERSA_01)


登録日:
2025.6.29
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OER評価前試料のTEM試料作製