データセット名：Au薄膜サンプル
課題名：Au薄膜サンプル
データセット登録者（所属機関）：村上達也（国立大学法人 北陸先端科学技術大学院大学）
- 課題番号：
- JPMXP1223JI2003
- 実施機関：
- 北陸先端科学技術大学院大学
要約
国立大学法人北陸先端科学技術大学院大学で使用しているX線光電子分光分析装置（Kratos AXIS-ULTRA DLD）を用い、標準試料としてAu薄膜を用いたXPS測定を行った。測定条件は下記の通り。線源は単色化Al、出力150 W(15 kV、10 mA)、中和銃使用、Wide Scanは-5 ~ 1400 eV, Narrow ScanはAu 4fにて測定を行った。本課題にかかるデータはXPSラウンドロビンテストの結果を含み、他機関装置との比較が可能。
キーワード・タグ
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データメトリックス
- ページビュー：
- 169
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データインデックス
- 登録日：
- 2024.10.23
- エンバーゴ解除日：
- 2023.11.30
- データセットID：
- f45eea2d-04f8-4c55-a034-f6383d43fa2b
- データタイル数：
- 1
- ファイル数：
- 3
- ファイルサイズ：
- 532.41KB
- ライセンス：
- ARIMライセンス