1. ホーム>
  2. データセット

データセット

データセット名:光学素子作製プロセス技術と評価技術の検討(23)_RIE

課題名:光学素子作製プロセス技術の検討

データセット登録者(所属機関):MIKAMI, Hirosuke(徳島大学)

課題番号:
JPMXP1223GA0111
実施機関:
香川大学

要約

光学素子作製プロセス検討のため、成膜、フォトリソグラフィ、エッチングプロセスを実施した。
4インチ径シリコン基板およびサファイア基板を用い、デュアルイオンビームスパッタ装置(GA-004、ハシノテック 10W-IBS)によりSi膜の成膜を行った。成膜後、両面マスクアライナー(ARIM未登録、SUSS MicroTec MA6/BA6)を用いて評価用パターンのフォトリソグラフィを行った。パターニング後、シリコン深堀エッチング装置(ARIM未登録、SPP Technologies MUC-21 ASE-Pegasus)を用いてドライエッチングを実施し、レジスト除去工程として反応性イオンエッチング装置(ARIM未登録、サムコ RIE-10NR)によるO₂アッシングを行った。
本データセットはレジスト除去のため反応性イオンエッチング装置でO2アッシングを行ったRIE工程を示す。
> 関連データセット:
> 光学素子作製プロセス技術と評価技術の検討(23)_Lithography
> 光学素子作製プロセス技術と評価技術の検討(23)_RIE
> 光学素子作製プロセス技術と評価技術の検討(23)_DRIE
> 23GA0112 光学素子作製後工程_Dicing

キーワード・タグ

重要技術領域(主):
重要技術領域(副):
横断技術領域:
マテリアルインデックス:
キーワードタグ:

データメトリックス

ページビュー:
17
ダウンロード数:
0

データインデックス

登録日:
2026.05.07
エンバーゴ解除日:
2026.03.31
データセットID:
6dfc4006-467f-4f78-b3de-f70cd1cb279f
データタイル数:
4
ファイル数:
12
ファイルサイズ:
258.33KB
ライセンス:
ARIMライセンス

装置・プロセス

成果発表・成果利用