データセット名：Monochromated EELS of NiO
課題名：Monochromated EELS of NiO
データセット登録者（所属機関）：KIMOTO,Koji（NIMS）
- 課題番号：
- JPMXP1222NM1004
- 実施機関：
- 物質・材料研究機構
要約
【【要約】
EELS装置の較正に用いられるNiOのスペクトル。モノクロメーターを使用。
Standard EEL spectra of an NiO thin film, which is one of standard specimens for calibrating energy.
【試料および観察条件】
試料はカーボン膜上のNiO多結晶体
Ni-L3ピークが852.75 eVとなるように装置(あるいはデータのエネルギー損失軸)を設定することが望ましい。
【参考資料】
木本浩司ほか「物質・材料研究のための透過電子顕微鏡」講談社(2020).ISBN 978-4065203866
Monochromator for TEM: Kimoto, Microscopy, 63 (2014) 337-344. http://dx.doi.org/10.1093/jmicro/dfu027
キーワード・タグ
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データメトリックス
- ページビュー：
- 292
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データインデックス
- 登録日：
- 2023.10.27
- エンバーゴ解除日：
- 2023.10.31
- データセットID：
- 21836235-a5d6-46d0-b7ab-475dc3c4fd5a
- データタイル数：
- 4
- ファイル数：
- 12
- ファイルサイズ：
- 57.87MB
- ライセンス：
- ARIMライセンス
装置・プロセス
成果発表・成果利用
- 論文等1：
-
Koji Kimoto, Practical aspects of monochromators developed for transmission electron microscopy, Microscopy, 63, 337-344(2014).
DOI: http://dx.doi.org/10.1093/jmicro/dfu027