データセット名：FIB加工装置（JIB-4000）によるTEM試料作製
課題名：FIBによるTEM試料作製
データセット登録者（所属機関）：MITARAI, Yoko
- 課題番号：
- JPMXP1223NM0193
- 実施機関：
- 物質・材料研究機構
要約
ハイエントロピー合金の微細組織観察のために、TEM観察用試料をFIBにより採取する。
あらかじめEBSDで結晶方位を調べた試料について、TEM観察に必要な結晶方位を有する結晶からFIB(JIB4000)により試料をピックアップした。ピックアップした試料をTEM(JEM-2100F)を用いて、200kVの加速電圧で観察した。ここではFIB加工装置（JIB-4000）を用いた実験結果を掲載する。
キーワード・タグ
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データメトリックス
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データインデックス
- 登録日：
- 2026.05.07
- エンバーゴ解除日：
- 2026.03.31
- データセットID：
- 6282d421-4a34-45e7-afca-d785447b04bb
- データタイル数：
- 1
- ファイル数：
- 17
- ファイルサイズ：
- 1.14MB
- ライセンス：
- ARIMライセンス