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データセット名:フォトレジスト(TSMR-V90_27cp, FT=1.0um)の感度曲線

課題名:各種フォトレジストの特性評価(2025年度実習)

データセット登録者(所属機関):TOTSU, Kentaro(東北大学)

課題番号:
JPMXP1225TU5012
実施機関:
東北大学

要約

フォトレジスト(TSMR-V90_27cp、ポジ型レジスト)を主回転数4000rpmでシリコンウェハ上へ塗布し、SUSS_MA6(コンタクトアライナ、TU-058、ブロードバンド光源)を用い、ウェハ内を9分割して露光量を変化させてLine/Spaceパターンを露光した。露光量はパワーメーター測定値のh線光量から算出した。現像後の各露光量の膜厚を段差計(Tencor、TU-306)で測定した。計4枚のシリコンウェハのうち、3枚は9分割露光、1枚はフォトレジストき傷をつけ、ソフトベーク後の膜厚測定を行い、規格化膜厚の基準値とした。現像液による未露光部の膜減りは、平均40nm(約3.9%)、Ethは約55mJ/cm2@FT=1.0umであった。

フォトレジスト(TSMR-V90_27cp, 膜厚1.0um)の感度曲線

キーワード・タグ

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データメトリックス

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データインデックス

登録日:
2025.11.12
エンバーゴ解除日:
2025.10.31
データセットID:
c6287a8a-e391-4edf-93a2-1074f3e0c871
データタイル数:
28
ファイル数:
140
ファイルサイズ:
2.08MB
ライセンス:
ARIMライセンス

成果発表・成果利用