データセット名：セラミック材料の微細構造解析
課題名：セラミック材料の微細構造解析
データセット登録者（所属機関）：YAMAMOTO, Takahisa （名古屋大学）
- 課題番号：
- JPMXP1223NU0044
- 実施機関：
- 名古屋大学
要約
焼結法や薄膜堆積法で作製したセラミック材料の微細構造観察を行い、機能発電界を印加しながらジルコニアセラミックスを昇温すると、印加した電界に依存した温度において試料に投入される電力が急峻に増加するフラッシュ現象が現れる。このフラッシュ現象を用いるとセラミック表面の微細亀裂を短時間で修復することができる。データは、ジルコニア単結晶(001)上に付したビッカース圧痕亀裂に、直流電界を用いたフラッシュ修復を適用し、負極近傍の亀裂修復箇所の微細組織である。負極側では、亀裂が十分には修復されておらず、もとの亀裂に沿ったクラックが残っていることや、Ｎの拡散による特徴的な組織が観察されている。
キーワード・タグ
- 重要技術領域（主）：
- 重要技術領域（副）：
- 横断技術領域：
- マテリアルインデックス：
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データメトリックス
- ページビュー：
- 302
- ダウンロード数：
- 0
データインデックス
- 登録日：
- 2026.03.13
- エンバーゴ解除日：
- 2025.10.15
- データセットID：
- 79ee4b21-fedd-4c0f-b461-6f693e31a70e
- データタイル数：
- 1
- ファイル数：
- 46
- ファイルサイズ：
- 530.45MB
- ライセンス：
- ARIMライセンス
装置・プロセス
成果発表・成果利用
- 論文等1：
-
Shunsuke Kayukawa, Microstructural analysis of flash-healed Vickers-indented microcracks near positive/negative electrodes on the (001) surface of cubic zirconia single crystals under direct current electric fields, Ceramics International, 50, 37348-37355(2024).
DOI: https://doi.org/10.1016/j.ceramint.2024.04.251