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データセット

データセット名:複合ビーム3次元加工・観察装置FIB-SEMによるSlice and view

課題名:2025電顕センタースタッフデータ

データセット登録者(所属機関):TAKAGI, Shunya (大阪大学)

課題番号:
JPMXP1225OS0000
実施機関:
大阪大学

要約

金属材料や複合材料、半導体デバイスにおける構造的特徴は、材料特性やデバイス性能に直結するため、その内部構造を高分解能で観察する技術が求められている。
複合ビーム3次元加工・観察装置FIB-SEMを使用して試料断面を削り出すSlice(スライス)と断面を観察するView(観察)を繰り返し、断面像を取得する作業を行った。本実験は銅のバルクサンプルの表面をカーボンで保護し、断面の連続像を取得した。

複合ビーム3次元加工・観察装置FIB-SEMによるSlice and view

キーワード・タグ

重要技術領域(主):
重要技術領域(副):
横断技術領域:
マテリアルインデックス:
キーワードタグ:

データメトリックス

ページビュー:
262
ダウンロード数:
48

データインデックス

https://doi.org/10.71947/arim.jpmxp1225os0000-4
登録日:
2025.10.08
エンバーゴ解除日:
2025.10.09
データセットID:
0fe8dc39-887f-4b0e-95c6-4b949da77622
データタイル数:
1
ファイル数:
44
ファイルサイズ:
6.04MB
ライセンス:

成果発表・成果利用