日時

2025年12月9日（火）13:00-18:10
2025年12月10日（水）9:00-19:30
2025年12月11日（木）9:00-12:25

開催方式／場所

ハイブリッド開催
場所：岡崎コンファレンスセンター
オンライン：Zoomウェビナー

主催

自然科学研究機構 分子科学研究所　理論化学会

共催

自然科学研究機構 岡崎共通研究施設 計算科学研究センター

定員

現地参加：100名
Zoomウェビナー参加：500名

参加費

無料

参加申し込み

Webフォーム　https://registration.ims.ac.jp/qcs2025/registration
申込締切：現地参加　11月3日（月）
　　　　　Zoomウェビナー参加　12月1日（月）

概要

2025年12月9日～11日の日程で「第15回量子化学スクール」を開催します。今年度も、参加者と講師の先生方との交流の機会を考慮してハイブリッド開催とします。講義は量子化学を基礎から学んで頂ける内容になっており、量子化学の経験や専門知識は前提としていません。最近のトピックスとして機械学習の基礎、マテリアルズインフォマティクス、第二量子化によるアプローチの講義もございます。現地ではポスター発表の機会もございますので、皆様の研究発表を期待しています。

これから量子化学を始めようとしておられる学部生や大学院生、量子化学プログラムを使用してみたい実験研究者や企業研究者など幅広い分野からのご参加をお待ちしています。現地参加頂いた方には、修了証を発行します。部分的な参加も歓迎いたします。

プログラム

12月9日（火）
≪座長≫　横川 大輔
　13:00-13:10　開会の挨拶　中井 浩巳
　13:10-14:40　白男川 貴史 先生（分子科学研究所）
　　　　　　　　「Hartree-Fock(-Roothaan)法：理論・数値計算・プログラミング」
　14:55-16:25　中谷 佳萌 先生（東京都立大学）
　　　　　　　　「電子相関とpost-HF法」
　16:40-18:10　柳澤 将 先生（琉球大学）
　　　　　　　　「密度汎関数理論：基礎から計算適用例まで」

12月10日（水）
≪座長≫　江原 正博
　09:00-10:30　齋藤 徹 先生（広島市立大学）
　　　　　　　　「分子物性の計算」
　10:45-12:15　五十幡 康弘 先生（豊橋技術科学大学）
　　　　　　　　「電子励起状態の計算化学」

≪座長≫　横川 大輔
　13:30-15:00　宇野 毅明 先生（国立情報学研究所）
　　　　　　　　「化学研究におけるデータマイニングの利用法」
　15:15-16:45　吉川 武司 先生（東邦大学）
　　　　　　　　「第二量子化で解く量子化学：ダイアグラムを中心に」
　17:00-18:00　ポスター発表（現地参加のみ）
　18:10-19:30　懇親会（現地参加のみ）　司会：江原 正博

12月11日（木）
≪座長≫　江原 正博
　09:00-10:30　藤井 幹也 先生（奈良先端科学技術大学院大学）
　　　　　　　　「AI駆動型の材料プロセス研究」
　10:45-12:15　和佐田 祐子 先生（名古屋工業大学）
　　　　　　　　「GaussianによるSCFおよび構造最適化の実際」
　12:15-12:25　修了証の授与、閉会の挨拶　中井 浩巳

お問い合わせ

自然科学研究機構　計算科学研究センター
量子化学スクール事務局
〒444-8585　愛知県岡崎市明大寺町字西郷中38番地
TEL：0564-55-7462
E-mail：qcs-school(at)ims.ac.jp
※(at)を@に書き換えてください。

ホームページ
[URL] https://ccportal.ims.ac.jp/qcs2025
※最新情報は、イベントWebサイトでご確認ください。

日時

2025年12月11日（木）13:00-16:00

開催方式

ウェビナー形式によるオンライン講義（インターネット配信）

主催

東京大学・リガク産学連携室、東京大学マテリアル先端リサーチインフラ

定員

500名（事前登録制）

参加費

無料

参加申し込み

Webフォーム　https://rigaku.com/ja/service-and-support/sangaku/02-sangaku-seminer-xrd-winter-20251211
※定員となり次第、申込みを締め切らせて頂きます。

詳細

初心者編『薄膜Ｘ線回折法の基礎とアプリケーション紹介』
薄膜X線回折法にこれから挑戦する方・初心者の方、薄膜試料のX線回折法での基本的な測定を行いたい方向けのセミナーです。

■基礎編講義　13:05～14:30（14:20～14:30　質疑応答）
　講師：山本 泰司（株式会社リガク　プロダクト本部　アプリケーションラボ　XRD分析グループ）　
　内容：X線回折法による薄膜試料評価の概要、粉末X線回折法との違い、薄膜評価用X線回折装置の装置構成などをご説明します。
　　　　続いて、最も一般的なX線回折測定を薄膜試料に適用したアウトオブプレーン測定(2θ/ωスキャン)をご紹介します。

■応用編講義　14:40～16:00（15:50～16:00　質疑応答）
　講師：長尾 圭吾（株式会社リガク　プロダクト本部　アプリケーションラボ　XRD分析グループ）
　内容：微小角入射X線回折法であるGI-XRD測定(2θスキャン)、インプレーン測定の原理と実際の分析事例を交えて解説します。

※本セミナー内容にX線反射率測定は含まれません。
※粉末X線回折のセミナーを6/5(木)に行います。こちらもぜひご参加ください

• 開催案内（PDF）

お問い合わせ

株式会社リガク営業本部　担当：残間（ザンマ）
E-mail：info-gsm(at)rigaku.co.jp
　または
東京大学ARIM　飯盛 桂子（イサガイ ケイコ）
E-mail：isagai(at)g.ecc.u-tokyo.ac.jp　
※(at)を@に書き換えてください。

ホームページ
東京大学・リガク産学連携室
[URL] https://rigaku.com/ja/service-and-support/sangaku
※最新情報は、イベントWebサイトでご確認ください。